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T
Terao Takeshi
Terao Takeshi
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発行日 (降順)
An a posteriori verification method for generalized real-symmetric eigenvalue problems in large-scale electronic state calculations
著者
Hoshi Takeo
/
Ogita Takeshi
/
Ozaki Katsuhisa
/
Terao Takeshi
/
資料タイプ
学術雑誌論文
掲載誌名
Journal of Computational and Applied Mathematics
巻
376
発行日
2020-10-01
